 |
Российская Ассоциация
(РАМЛД) |
|
Главная | |
|
|
РАМЛД | |
|
|
Регионы | |
|
|
Новости | |
|
|
Конференции и выставки | |
|
|
Коллективные члены РАМЛД | |
|
|
Издательская деятельность | |
|
|
Публикации | |
|
|
LabShop | |
Наш адрес:
г.Москва, 119526, а/я 117, РАМЛД,
т/ф.: (495) 433-24-04
г.Москва, 119526, а/я 117, РАМЛД,
т/ф.: (495) 433-24-04
|
автор: О.В. Егорова ОС «ТКС-оптика», Санкт-Петербург год издания: 2005 |
Контроль качества. Актуальные проблемы техники и технологии в микроскопии
Статья представлена в формате PDF
Контроль качества. Актуальные проблемы техники и технологии в микроскопии
|
автор: О.В. Егорова ОС «ТКС-оптика», Санкт-Петербург год издания: 2005 |
|